Untdek de geheimen fan 'e X-Ray Flat Panel Detector, in lyts apparaat dat ôfbylding fan ôfbyldingskwaliteit hat foar yndustriële applikaasjes. Oft yn yndustriële, medyske as dental fjilden, platte panieldetektoren mei Amorphous Silicon-technology binne de standert wurden foar CBCT en Panoramyske ôfbylding.
It foardiel fan Amorphous Silicon-technology leit yn syn fermogen om röntgenfoto's te konvertearjen yn sichtbere ôfbyldings om elektroanyske útgongen te leverjen foar X-ray Systems. Dizze technology is geskikt foar X-ray Fluoroskopy en X-Ray-ôfbylding, direkte brûkt, breed brûkt yn elektroanyske produkten, elektroanyske komponinten, ynjeksjedielen en oare yndustriële net-destruktyf testen.
Technysk spesifikaasjes oersjoch:
Detektor Kategory: Amorphous silisium
Scintillator: CSI GOS
Ofbyldinggrutte: 160 × 130mm
Pixel Matrix: 1274 × 1024
Pixel Pitch: 125μm
A / D-konverzje: 16 bits
Sensitiviteit: 1.4LSB / NGY, RQA5
Lineêre dosis: 40UGY, RQA5
Modulation Transfer function @ 0.5lp / mm: 0,60
Modulation Transfer function @ 1.0 LP / MM: 0.36
Modulation Transfer function @ 2.0 LP / MM: 0.16
Modulation Transfer function @ 3.0 LP / MM: 0.08
Residuele ôfbylding: 300ugy, 60s,%
Dizze parameters soargje derfoar dat de detektor fan hege kwaliteit fan hege kwaliteit kin leverje yn in ferskaat oan applikaasjes, of yndustriële ynspeksje as medyske diagnostyk, om te foldwaan oan 'e behoeften fan brûkers.
Posttiid: MAR-15-2025